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DX-2012MQ稀土永磁材料品质测试装置
采用磁通计配配置一维亥姆霍兹线圈,主要应用在对永磁器件在该线圈条件下的磁通测量,乘以线圈常数获得器件的磁矩,对于规矩尺寸的样品可推算出材料Br、Hcb和BHmax等。经实验验证采用一维线圈测试轴向充磁的圆柱、圆环和方块型稀土永磁样品,可以非常准确的测试材料的总磁矩M(准确的说是Mz),利用材料BH退磁曲线接近直线,可以比较准确的对材料的磁特性三个重要参数Br、Hcb、BHmax进行推算,从而判断材料的品质。
获取详细规格和报价DX-2012MQ稀土永磁材料品质测试装置
采用磁通计和亥姆霍兹线圈测试稀土材料品质已经成为目前企业之间最流行的检验方式,测试材料磁性能上虽然没有永磁材料BH测量装置准确,还不能提供材料內禀矫顽力Hcj参数,但由于其测试磁矩数据更加可靠,设备成本更低,适合所有的材料制造和用户之间进行传递和交流,将在以后的磁测量领域中起到更大的作用。
采用磁通计配配置一维亥姆霍兹线圈,主要应用在对永磁器件在该线圈条件下的磁通测量,乘以线圈常数获得器件的磁矩,对于规矩尺寸的样品可推算出材料Br、Hcb和BHmax等。经实验验证采用一维线圈测试轴向充磁的圆柱、圆环和方块型稀土永磁样品,可以非常准确的测试材料的总磁矩M(准确的说是Mz),利用材料BH退磁曲线接近直线,可以比较准确的对材料的磁特性三个重要参数Br、Hcb、BHmax进行推算,从而判断材料的品质,很好的用于材料企业和材料使用企业之间进行稀土永磁材料品质的传递中,磁矩测试准确度和重复性远远优于采用BH测试仪器测试标准样品传递数据,测试效率高可以实现对所有充磁样品的全检,并及时发现器件的缺陷,同时能保证对材料磁能积等级的判断。
产品特点 |
● 采用单片机设计,程序自动计算,直观方便; |
● 适用于所有稀土永磁材料,设备成本低; |
● 很方便地测量出材料的磁通量Ø、磁矩M,并推算出Br、Hcb、BHmax等数据; |
● 可以测量不同尺寸的稀土样品,不再受样品大小的限制; |
● 可添加无磁加热陶瓷炉,通过加温测试获得稀土永磁的M-T曲线; |
● 可用于稀土永磁材料进行热稳定性和磁通不可逆的检验; |
● 磁通计采用低漂移技术,测试更加稳定准确。 |
技术指标 |
● 供电电源:交流220V/0.5A |
● 测试量程:1mWb,10 mWb,100 mWb,1000 mWb四档 |
● 对应输入阻抗:1k欧姆、10k欧姆、100k欧姆、1000k欧姆 |
● 测试准确度:0.5% |
● 漂移度:1uWb /分钟 |
● 最小分辨率:0.1uWb(对应2mwb量程) |
● 体积:285mm×300mm×100mm,重量:3kg;(宽*深*高) |
● 使用环境:0℃至+50℃,湿度:35~80%。 |
案例展示
1、SmCo28H样品尺寸:L20mm×W10mm×5mm,采用DX-2012H永磁材料测量装置测试数据如下:Br=10.83kGs,Hcb=10.26kOe,Hcj≥30kOe,BHmax=27.78MGOe。
采用DX-2O12MQ 稀土永磁材料品质测试装置配置一维亥姆霍兹线圈(urec按1.05计算):
测试重复性优秀,Br测试准确度与BH测试装置比较差异控制在0.6%范围内,采用磁导率系数按1.05计算(可以进行精确优化),Hcb偏差在1.56%以内,BH偏差1.04%。
2、N30M样品尺寸:D13.08mm×H6.35mm,采用DX-2012H永磁材料测量装置测试数据如下:Br=11.06kGs,Hcb=10.68kOe,BHmax=29.53MGOe。
采用DX-2012MQ 稀土永磁材料品质测试装置配置一维亥姆霍兹线圈(urec按1.05计算):
测试重复性优秀,Br测试准确度与BH测试装置比较偏差0.2%,采用磁导率系数按1.05计算(可以进行精确优化),Hcb偏差在1.55%以内,BH偏差1.75%。
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公司: 厦门盈德兴磁电科技有限公司
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软磁材料矫顽力测量装置
DX-2012HC软磁材料矫顽力测量装置主要用于对用形状不规则(规则)的样品快速测量,测试方法可靠。测试原理从从定义出发,参考IEC60404-7的标准,先采用螺线管对开路软磁样品(或器件)进行饱和磁化,再通过磁强计探头靠近霍样品测试样品的杂散磁场。反向施加退磁磁场,当杂散磁场被还原为零时,退磁磁场与材料的矫顽力一致。软磁材料矫顽力测量系统操作简单,测试数据重复性较好,软材料测量包括:纯铁和碳钢、软磁铁氧体、磁性粉末等规则和不规则开路器件的Hc测量,特别适合汽车行业、继电器行业的零部件,测试水平达到国际同行先进水平.
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DX-100霍尔效应测试系统
DX-100霍尔效应测试系统可分为常温,高温,低温,高低温霍尔效应测试系统;用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数;霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具.
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DX-9000系列振动样品磁强计
9000系列振动样品磁强计,是我司自主研发的磁性材料测量系统,国内首套磁矩测量噪音进入10-8emu量级(4 × 10-8 emu noise floor at 10 s/point)的商业VSM。我们对磁性测量设备的引进推广、代理销售和技术服务等方面,有超过20年的经验。我们借鉴了国际上最先进的几种振动样品磁强计的优点,并参考了超导磁体上振动样品磁强计的设计理念,在电磁铁的平台上设计出性能一流、功能均衡和选件丰富的全新一代产品.
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DX-2100AM永磁体磁偏角测量仪
DX-2100AM永磁体磁偏角测量仪由三维亥姆霍兹线圈连接独立的三分量磁通计,构成硬件测试部分,通过对三个分量的测试数据进行微机换算,构成一套完整的永磁材料品质测试系统。将磁体放入样品台上,通过提拉法测试出磁通分量,并通过计算得到磁矩以及主轴方向的磁场偏差角度值。可显示总磁矩M、主轴磁偏角α、Øx、Øy、Øz以及对应测试线圈的线圈常数